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單晶探頭奧林巴斯測厚儀探頭

產(chǎn)品時(shí)間：2024-07-08

簡要描述：

V260-45單晶探頭奧林巴斯測厚儀探頭,可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。優(yōu)勢? 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場分辨率。
? 較高的探頭頻率提高了分辨率。
? 直接接觸法可提高測量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。
? 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

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詳細(xì)介紹

V260-SM V260-RM V260-45測厚儀探頭
用于腐蝕測厚應(yīng)用的單晶探頭
與38DL PLUS和45MG儀器配套使用。
* 氧化物軟件僅為38DL PLUS儀器提供。
**E110-SB不能與45MG儀器配套使用。
? E110型探頭需要適配器（工件編號為1/2XA/E110）。

腐蝕測厚探頭
雙晶探頭主要用于腐蝕材料的測量，如：鍋爐管件和鑄鐵。這些探頭具有不同的頻率、尺寸及抗溫能力，可為大多數(shù)腐蝕應(yīng)用提供即需即用的解決方案。
腐蝕測厚探頭
雙晶探頭主要用于腐蝕材料的測量，如：鍋爐管件和鑄鐵。這些探頭具有不同的頻率、尺寸及抗溫能力，可為大多數(shù)腐蝕應(yīng)用提供即需即
用于腐蝕測厚應(yīng)用的單晶探頭
與38DL PLUS和45MG儀器配套使用。
* 氧化物軟件僅為38DL PLUS儀器提供。
**E110-SB不能與45MG儀器配套使用。
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