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雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

產(chǎn)品時間:2024-07-02

簡要描述:

Olympus奧林巴斯45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀,用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

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     Olympus奧林巴斯45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

應(yīng)用

檢測管道中的內(nèi)壁減少情況。

背景

局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過程中形成的初始階段可以產(chǎn)生壁減少。鋼中的印??梢酝ㄟ^成形輥產(chǎn)生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會引起剝落。剝落并從輥?zhàn)由厦撾x的金屬片可落入進(jìn)入板的路徑中,使得片件粘合到輥?zhàn)由稀R坏┧槠c輥?zhàn)咏Y(jié)合,就會在被軋制的板材中開始出現(xiàn)印痕。因此,由輥引起的印模的術(shù)語偽影看起來類似于由腐蝕引起的壁減少。

在許多情況下,新管道將投入使用此類工件。當(dāng)管道運(yùn)行后再進(jìn)行腐蝕檢查時,檢查人員可能會發(fā)現(xiàn)這些墻壁減少偽影并將其誤認(rèn)為是腐蝕單元。如果發(fā)生這種情況,工藝工程師可能會推斷出不正確的腐蝕速率并導(dǎo)致不正確的工藝變化和/或化學(xué)添加 然而,簡單的超聲測量程序可以在制造或安裝階段識別偽影。

雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

設(shè)備

型號38DLP PLUS厚度計,或帶波形顯示選件的45MG型應(yīng)變計,以及D790雙元件傳感器(5 MHz)。

下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250"壁碳鋼1018等級。深色凹痕是減少在管道形成過程中發(fā)生的壁厚的偽影。ID或OD上沒有腐蝕。


厚度測量以與腐蝕測量相同的方式進(jìn)行。在左圖中,量具讀取全壁厚度。在右圖中,較薄的讀數(shù)表示內(nèi)表面上的壁變薄偽影。



在試圖區(qū)分制造工件和腐蝕電池時,檢查員可能會考慮以下因素:

  • 確定管道是ERW還是無縫管道。

  • 確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機(jī)。

  • 如果管道回路中的多個或所有接頭都是ERW,請確定每個接頭上的工件所在的線。檢查員可能會發(fā)現(xiàn)線路相對于管道改變方位角位置。

  • 如果發(fā)現(xiàn)電路中的管道連接是無縫的并且沒有墻壁減少。

結(jié)論

可以通過超聲波厚度測量來檢測管道中的制造偽影。執(zhí)行管道厚度測量的檢查員應(yīng)了解這種損壞機(jī)制。向過程工廠質(zhì)量控制檢查員通知該潛在問題以避免過高估計腐蝕速率也很重要。

45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測厚儀

手持式45MG是一款配置有各種測量功能和軟件選項的超聲測厚儀。這款儀器與所有奧林巴斯雙晶和單晶探頭探頭兼容。


38DL PLUS

38DL PLUS是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進(jìn)行檢測。其性能包含THRU-COAT®(穿透涂層)和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進(jìn)行的厚度測量。

測量雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后延遲到*個回波之間的時間間隔。

自動回波到回波(可選)在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。

穿透涂層測量 (可選)利用單個底面回波,測量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭)

單晶探頭測量模式(可選)模式1:激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。
模式2:延遲塊回波與*個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭)
模式3:在激勵脈沖之后,位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。

厚度范圍0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量較全的范圍需要使用單晶選項)

材料聲速范圍0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)

分辨率(可選擇)低分辨率:0.1毫米(0.01英寸)
標(biāo)準(zhǔn)分辨率:0.01毫米(0.001英寸)
單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸)

探頭頻率范圍標(biāo)準(zhǔn):2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
一般規(guī)格操作溫度范圍-10 °C~50 °C(14 °F~122 °F)

鍵盤密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋

機(jī)殼防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼,機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。

外型尺寸(寬 x 高 x 厚)總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm

重量430.9克

電源3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)

電池工作時間3節(jié)AA堿性電池:20到21小時
3節(jié)AA鎳氫電池:22到23小時
3節(jié)AA鋰離子電池:35到36小時

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)
顯示彩色透反QVGA顯示液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米

檢波全波、RF波、正半波、負(fù)半波(波形選項)
輸入/輸出USB2.0從接口

存儲卡最大容量:2 GB可插拔microSD存儲卡
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選)數(shù)據(jù)記錄器45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。

容量475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形

文件名稱和ID編碼32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼

文件結(jié)構(gòu)6個標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)

報告機(jī)載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和最小值/最大值

標(biāo)準(zhǔn)配置

  • 45MG數(shù)字式超聲測厚儀

  • AA堿性電池

  • 2階試塊和耦合劑

  • USB線纜

  • 用戶手冊,存于CD盤上

  • 測量功能:最小值/最大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項

  • 45MG-SE (U8147022):單晶選項,使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭

  • 45MG-HP (U8147023):單晶高穿透選項,使用頻率范圍為0.5 MHz~30 MHz的單晶探頭

  • 45MG-EETC (U8147021):回波到回波和穿透涂層

  • 45MG-WF (U8147019):波形選項

  • 45MG-DL (U8147020):內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器,包含GageView接口程序

選購附件

  • MICROSSD-ADP-2GB (U8779307): 2 GB外置microSD存儲卡

  • 45MG-RPC (U8779676): 帶支架的橡膠保護(hù)套

回波到回波/穿透涂層選項

回波到回波

測厚儀使用多個底面回波,顯示不計涂層厚度的實(shí)際金屬厚度:

  • 自動回波到回波

  • 手動回波到回波(僅出現(xiàn)于A掃描選項),可進(jìn)行以下操作:  

    • 增益調(diào)整

    • 擴(kuò)展空白

    • 回波空白

穿透涂層技術(shù)


使用單個底面回波測量金屬的實(shí)際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要得到金屬的厚度,無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。





顯示A掃描的自動回波到回波模式


顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式(波形選項未被激活)


調(diào)整*個回波空白的手動回波到回波模式


顯示可選波形的穿透涂層模式

單晶軟件選項

用戶使用單晶軟件選項,可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的厚度測量??膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。

  • 大多數(shù)薄材料和厚材料

  • 壁厚薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

  • 壁厚薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件

  • 汽缸孔、渦輪葉片

  • 玻璃燈泡、瓶子

  • 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料

  • 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器

單晶高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個選項包含單晶選項。

  • 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料

  • 厚鑄造金屬部件

  • 厚橡膠輪胎、履帶

  • 玻璃纖維船體、儲存罐

  • 復(fù)合材料板

  • 對于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭,分辨率為0.01毫米(0.001英寸)

可選數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口

45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。

數(shù)據(jù)記錄器選項

  • 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù),或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。

  • 32位字符的文件名稱

  • 20位字符的ID#(TML#)編碼

  • 6個文件格式:遞增型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機(jī)上手動創(chuàng)建的文件格式

  • 內(nèi)置microSD存儲卡和可插拔microSD存儲卡

  • 可以在內(nèi)置和可插拔microSD存儲卡之間拷貝文件

  • 標(biāo)準(zhǔn)型USB通訊

  • 單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸

  • 機(jī)載統(tǒng)計報告

  • 機(jī)載DB柵格視圖,使用3種可編輯的顏色

  • GageView接口程序可與45MG儀器通訊,方法是:  

    • 通過USB端口

    • 讀取microSD存儲卡上的數(shù)據(jù),或在存儲卡上寫入信息

  • 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV(以逗號分隔值)格式或.txt格式,直接導(dǎo)出到microSD存儲卡


在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。


可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。



機(jī)載DB柵格視圖,使用3種可編輯的顏色

GageView接口程序

  • 包含在數(shù)據(jù)記錄器選項中

  • 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測厚儀的數(shù)據(jù)

  • 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)

  • 編輯所存數(shù)據(jù)

  • 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值

  • 從測厚儀上下載厚度測量總結(jié),或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀

  • 將測量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其它程序

  • 收集捕獲的屏幕

  • 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告

  • 升級45MG軟件

  • 下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件


在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。

帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時A掃描

用戶使用這個可選實(shí)時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數(shù),對增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動調(diào)整,以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中最大限度地增強(qiáng)測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、個回波空白、范圍及延遲參數(shù)。


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